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TDM-20桌面型X射線衍射儀
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產品描述
參數
TDM-20桌面型X射線衍射儀主要用于對粉末、固體和類似糊狀材料進行物相分析。它利用X射線衍射原理可以對粉末樣品、金屬樣品等多晶材料進行定性或定量分析、晶體結構分析，廣泛應用于工業、農業、國防、制藥、礦產、食品安全、石油、教育科研等領域。
新型高性能陣列探測器的加載使整機性能有了飛躍式的提高
該設備體積小，重量輕;
頻高壓電源工作功率可達1600瓦;
能快速對樣品進行校準和測試;
線路控制簡單，便于調試安裝;
角度重復性可達0.0001。
可搭配：
一維陣列探測器 正比探測器 6位自動換樣器 旋轉樣品臺
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